در کتاب حاضر، روشها و دستگاههای پرکاربرد برای مشخصهیابی و آنالیز ریزساختار مواد بررسی و مبانی نظری و کاربردی نیز در قالب مثالهای مرتبط توضیح داده میشود. مبانی تئوری لازم تا حد امکان با زبانی ساده توضیح داده شده تا مخاطبان نیازی به رجوع به منابع دیگر نداشته باشند. همچنین این کتاب علاوه بر تشریح موضوعات اساسی، موضوعات بسیاری را نیز دربر میگیرد که بهصورت پراکنده در منابع مختلف وجود داشته است. نگارش متون، بیان شیوا و قابل فهم از ویژگیهایی است که در تدوین این کتاب به آن توجه خاصی شده است.
فصل ۱ / میکروسکوپ الکترونی روبشی(SEM) ۲۳
فصل ۲- پرتو یونی متمرکز (FIB) ۶۱
فصل ۳- میکروسکوپ الکترونی عبوری(TEM) ۸۷
فصل ۴- روش توموگرافی پرتو ایکس (X-RAY TOMOGRAPHY) ۱۲۳
فصل ۵- طیفنگاری مادون قرمز(FTIR) ۱۴۳
فصل۶- طیفسنجی رزونانس مغناطیسی هسته(NMR) ۱۶۷
فصل۷- پراش اشعه ایکس(XRD) ۲۰۳
فصل۸- طیفسنجی پراکندگی انرژی (EDS) ۲۲۷
فصل ۹- نانو سختی سنجی (NANO INDENTATION) ۲۴۳
فصل ۱۰- میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM) ۲۶۹
فصل ۱۱- تست خراشSCRATCH TEST)) ۳۰۷
دسته بندی موضوعی | موضوع فرعی |
فنی و مهندسی |
مواد و متالوژی
|